Consulte el plan de estudio para JEE Advanced 2018.
El examen de ingreso conjunto (JEE, por sus siglas en inglés) es un examen de ingreso común en toda la India para la admisión en universidades de ingeniería en toda la India. Se lleva a cabo en dos fases: JEE Main y JEE Advanced. Los IIT y el ISM otorgan admisión en función de los resultados de JEE Advanced. Los NIT, los IIIT y otros institutos centrales o financiados por el estado otorgan la admisión en base a la JEE Main. Los estudiantes son elegibles para escribir JEE Advanced solo si borran las marcas de corte en la página principal de JEE. Además, IIT JEE está considerado como uno de los exámenes más difíciles del mundo. Más de 14 estudiantes de Lakh aparecen cada año y solo 20,000 obtienen un rango.
El patrón de papel es diferente cada año con un esquema de calificación diferente y, por lo tanto, los estudiantes deben leer las instrucciones cuidadosamente.
- ¿Son 131 marcas suficientes para eliminar el avance de JEE 2016?
- ¿Cuál es el uso de JEE Advanced ya que casi todas las universidades de ingeniería consideran las clasificaciones principales de JEE?
- ¿Qué instituto de entrenamiento proporciona el mejor DLP para JEE (Mains + Advanced)?
- ¿Cuál debería ser mi elección con el rango de 13 k en JEE Mains y el rango de 15 k en avanzado?
- ¿Puede un estudiante obtener su rango en el top 100 si comienza la preparación avanzada de JEE en la clase 12?
- Las preguntas consistirán en preguntas objetivas de tipo (opción múltiple) y respuesta numérica diseñadas para evaluar la comprensión, el razonamiento y la capacidad analítica de los candidatos.
- Las respuestas incorrectas a algunas de las preguntas recibirán una calificación negativa.
- El documento de preguntas estará en inglés o en hindi. Los candidatos deben elegir el idioma del papel de la pregunta mientras se registran para JEE Advanced 2018. El idioma del cambio del papel de la pregunta no se entretendrá después del registro.
- Entonces, no creo que haya un esquema de calificación parcial el próximo año.
